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MiniTest 1100 / 2100 / 3100 / 4100 系列涂层测厚仪

产品特点

  • MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
  • 所有型号均可配所有探头;
  • 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
  • 可使用一片或二片标准箔校准。

技术参数

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

其他功能

设置极限值

-

-

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值

-

-

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

连续测量模式中显示最小值

-

-

MiniTest涂层测厚仪可选探头参数

  所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
  F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
  N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
  FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头

量程

低端分辨率

误差

最小曲率半径

最小测量区域直径

最小基体厚度

探头尺寸
(mm)




F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70


FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62




N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

无限制

φ17x80

注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

MiniTest涂层测厚仪探头图示

FN1.6

0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层量程低端分辨率很高(O.1μm)

FN1.6P

0~1600μm,φ30mm
两用测头,特别适合测粉末状的覆层厚度

FN2

0~2000μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层

F05

0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)

F1.6

0~1600μm,φ5mm
磁性测头量程低端分辨率很高(O.1μm)

F3

0~3000μm,φ5mm
磁性测头可用于较厚的覆层

F1.6/90

0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头,尤其适合于在管内壁测量量程低端分辨率很高(O.1μm)

F2/90

0~2000μm,φ5mm
90度磁性测头,尤其适合于在管内壁测量

F10

0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F20

0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F50

0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02

0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(O.1μm)

N0.8Cr

0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6

0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(O.1μm)

N2

0~2000μm,φ5mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层

N1.6/90

0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层,尤其适合在管内壁测量量程低端分辨率很高(O.1μm)

N2/90

0~2000μm,φ5mm磁性测头,尤其适合在管内壁测量

N10

0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N20

0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N100

0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

CN02

10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

 
 
 
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